逐次逼近模/数转换器（SAR ADC）设计与仿真

附录C 本书常用术语表

B.2 FFT分析代码

B.1 DNL/INL代码

附录B ADC测试代码

A.8 gm/Id曲线

A.7 工艺参数总结

A.6 方块导通电阻

A.5 栅极电容密度

A.4 背栅效应系数

A.3 沟道调制系数

A.2 β（μCOXW/L）与K（μCOX）

A.1 阈值电压

附录A 工艺参数提取

11.2 数据处理

11.1 信号滤波

第11章 模拟后端数据处理与分析

10.5 流水线ADC建模

10.4 Δ-ΣADC建模

10.3 SAR ADC建模

10.2 闪存ADC建模

10.1 MATLAB仿真软件简介

第10章 MATLAB在ADC中的应用

9.4.2 CMOS采样保持电路

9.4.1 采样保持概述

9.4 采样保持电路

9.3 采样开关设计

9.2 信号重建

9.1 信号采样

第9章 采样

8.7 校正应用实例——模拟前端校正应用

8.6 校正算法总结

8.5 数字后端校正

8.4 数字前端校正

8.3 模拟后端校正

8.2 模拟前端校正

8.1 校正技术概述

第8章 校正算法

7.4 二步式SAR ADC测试结果

7.3 动态测试

7.2 静态测试

7.1 测试系统

第7章 SAR ADC测试

6.2 接口电路与整体布局

6.1.4 DNL/INL仿真

6.1.3 噪声仿真

6.1.2 交流仿真

6.1.1 直流仿真

6.1 整体仿真验证

第6章 整体仿真与设计

5.4.5 SAR逻辑整体实现

5.4.4 高低位衔接ULS信号与高低位MUX选择

5.4.3 最高位漏电问题

5.4.2 SAR逻辑单元电路

5.4.1 采样时序控制

5.4 SAR逻辑设计实例

5.3 SAR逻辑速度、面积与功耗

5.2 异步SAR逻辑

5.1 同步SAR逻辑

第5章 逐次逼近寄存器（SAR）逻辑

4.7.4 整体实现

4.7.3 开关设计

4.7.2 失配与kT/C噪声

4.7.1 DAC架构

4.7 比例基准二步式DAC设计实例

4.6 DAC功耗

4.5 DAC开关设计

4.4 DAC噪声

4.3 整体电容值——kT/C噪声

4.2 单位电容值——失配

4.1 电容DAC基础架构

第4章 数/模转换器（DAC）

3.7 比较器功耗

3.6.2 动态锁存器噪声

3.6.1 前置放大器噪声

3.6 比较器噪声

3.5.2 动态锁存器失调仿真

3.5.1 前置放大器失调仿真

3.5 比较器输入失调电压

3.4.3 整体比较器

3.4.2 动态比较器

3.4.1 前置放大器

3.4 比较器增益与速度

3.3 动态比较器

3.2 静态比较器

3.1 比较器基础指标

第3章 比较器

2.2.4 14位二步式SAR ADC设计指标

2.2.3 14位二步式SAR ADC原理

2.2.2 SAR ADC辅助电路

2.2.1 SAR ADC核心电路

2.2 SAR ADC系统

2.1.3 ADC趋势

2.1.2 ADC体系结构概述

2.1.1 技术按比例缩小带来的挑战

2.1 ADC发展趋势

第2章 ADC发展趋势与SAR ADC系统

1.3.9 ADC架构比较

1.3.8 时间交织（TI）ADC

1.3.7 流水线（Pipeline）ADC

1.3.6 二步式（TS）ADC

1.3.5 德尔塔-西格玛（Delta-Sigma，Δ-Σ）ADC

1.3.4 逐次逼近（SAR）ADC

1.3.3 循环（Cyclic）ADC

1.3.2 积分（Integrating）ADC

1.3.1 闪存（Flash）ADC

1.3 ADC基本架构与原理

1.2.2 动态指标

1.2.1 静态指标

1.2 ADC基础指标

1.1 ADC发展现状

第1章 绪论

作者简介

前言

“集成电路系列丛书·集成电路设计”主编序言

“集成电路系列丛书”主编序言

“集成电路系列丛书·集成电路设计”编委会

出版委员会

编委会秘书处

“集成电路系列丛书”编委会

内容简介

版权信息

封面

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“集成电路系列丛书”主编序言

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作者简介

第1章 绪论

1.1 ADC发展现状

1.2 ADC基础指标

1.2.1 静态指标

1.2.2 动态指标

1.3 ADC基本架构与原理

1.3.1 闪存（Flash）ADC

1.3.2 积分（Integrating）ADC

1.3.3 循环（Cyclic）ADC

1.3.4 逐次逼近（SAR）ADC

1.3.5 德尔塔-西格玛（Delta-Sigma，Δ-Σ）ADC

1.3.6 二步式（TS）ADC

1.3.7 流水线（Pipeline）ADC

1.3.8 时间交织（TI）ADC

1.3.9 ADC架构比较

第2章 ADC发展趋势与SAR ADC系统

2.1 ADC发展趋势

2.1.1 技术按比例缩小带来的挑战

2.1.2 ADC体系结构概述

2.1.3 ADC趋势

2.2 SAR ADC系统

2.2.1 SAR ADC核心电路

2.2.2 SAR ADC辅助电路

2.2.3 14位二步式SAR ADC原理

2.2.4 14位二步式SAR ADC设计指标

第3章 比较器

3.1 比较器基础指标

3.2 静态比较器

3.3 动态比较器

3.4 比较器增益与速度

3.4.1 前置放大器

3.4.2 动态比较器

3.4.3 整体比较器

3.5 比较器输入失调电压

3.5.1 前置放大器失调仿真

3.5.2 动态锁存器失调仿真

3.6 比较器噪声

3.6.1 前置放大器噪声

3.6.2 动态锁存器噪声

3.7 比较器功耗

第4章 数/模转换器（DAC）

4.1 电容DAC基础架构

4.2 单位电容值——失配

4.3 整体电容值——kT/C噪声

4.4 DAC噪声

4.5 DAC开关设计

4.6 DAC功耗

4.7 比例基准二步式DAC设计实例

4.7.1 DAC架构

4.7.2 失配与kT/C噪声

4.7.3 开关设计

4.7.4 整体实现

第5章 逐次逼近寄存器（SAR）逻辑

5.1 同步SAR逻辑

5.2 异步SAR逻辑

5.3 SAR逻辑速度、面积与功耗

5.4 SAR逻辑设计实例

5.4.1 采样时序控制

5.4.2 SAR逻辑单元电路

5.4.3 最高位漏电问题

5.4.4 高低位衔接ULS信号与高低位MUX选择

5.4.5 SAR逻辑整体实现

第6章 整体仿真与设计

6.1 整体仿真验证

6.1.1 直流仿真

6.1.2 交流仿真

6.1.3 噪声仿真

6.1.4 DNL/INL仿真

6.2 接口电路与整体布局

第7章 SAR ADC测试

7.1 测试系统

7.2 静态测试

7.3 动态测试

7.4 二步式SAR ADC测试结果

第8章 校正算法

8.1 校正技术概述

8.2 模拟前端校正

8.3 模拟后端校正

8.4 数字前端校正

8.5 数字后端校正

8.6 校正算法总结

8.7 校正应用实例——模拟前端校正应用

第9章 采样

9.1 信号采样

9.2 信号重建

9.3 采样开关设计

9.4 采样保持电路

9.4.1 采样保持概述

9.4.2 CMOS采样保持电路

第10章 MATLAB在ADC中的应用

10.1 MATLAB仿真软件简介

10.2 闪存ADC建模

10.3 SAR ADC建模

10.4 Δ-ΣADC建模

10.5 流水线ADC建模

第11章 模拟后端数据处理与分析

11.1 信号滤波

11.2 数据处理

附录A 工艺参数提取

A.1 阈值电压

A.2 β（μCOXW/L）与K（μCOX）

A.3 沟道调制系数

A.4 背栅效应系数

A.5 栅极电容密度

A.6 方块导通电阻

A.7 工艺参数总结

A.8 gm/Id曲线

附录B ADC测试代码

B.1 DNL/INL代码

B.2 FFT分析代码

附录C 本书常用术语表