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第1部分 概念和技术
第1章 从摩尔定律到功能密度定律
1.1 摩尔定律
1.2 摩尔定律面临的两个问题
1.3 功能密度定律
1.4 广义功能密度定律
第2章 从SiP到Si3P
2.1 概念深入:从SiP到Si³P
2.2 Si³P之integration
2.3 Si³P之interconnection
2.4 Si³P之intelligence
2.5 Si³P总结
第3章 SiP技术与微系统
3.1 SiP技术
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3.2 微系统
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第4章 从2D到4D集成技术
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4.1 集成技术的发展
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4.2 2D集成技术
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4.3 2D+集成技术
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4.4 2.5D集成技术
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4.5 3D集成技术
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4.6 4D集成技术
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4.7 腔体集成技术
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4.8 平面集成技术
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4.9 集成技术总结
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第5章 SiP与先进封装技术
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5.1 SiP基板与封装
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5.2 与先进封装相关的技术
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5.3 先进封装技术
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5.4 先进封装的特点和SiP设计需求
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第1部分参考资料及说明
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第2部分 设计和仿真
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第6章 SiP设计仿真验证平台
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6.1 SiP设计技术的发展
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6.2 SiP设计的两套流程
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6.3 通用SiP设计流程
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6.4 基于先进封装HDAP的SiP设计流程
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6.5 设计师如何选择设计流程
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6.6 SiP仿真验证流程
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6.7 SiP设计仿真验证平台的先进性
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第7章 中心库的建立和管理
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7.1 中心库的结构
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7.2 Dashboard介绍
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7.3 原理图符号(Symbol)库的建立
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7.4 版图单元(Cell)库的建立
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7.5 Part库的建立和应用
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7.6 中心库的维护和管理
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第8章 SiP原理图设计输入
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8.1 网表输入
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8.2 原理图设计输入
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8.3 基于DataBook的原理图输入
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8.4 文件输入/输出
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第9章 版图的创建与设置
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9.1 创建版图模板
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9.2 创建版图项目
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9.3 版图相关设置与操作
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9.4 版图布局
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9.5 封装引脚定义优化
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9.6 版图中文输入
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第10章 约束规则管理
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10.1 约束管理器(Constraint Manager)
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10.2 方案(Scheme)
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10.3 网络类规则(Net Class)
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10.4 间距规则(Clearance)
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10.5 约束类(Constraint Class)
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10.6 Constraint Manager和版图数据交互
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10.7 规则设置实例
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第11章 Wire Bonding设计详解
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11.1 Wire Bonding概述
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11.2 Bond Wire 模型
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11.3 Wire Bonding工具栏及其应用
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11.4 Bond Wire规则设置
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11.5 Wire Model Editor和Wire Instance Editor
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第12章 腔体、芯片堆叠及TSV设计
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12.1 腔体设计
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12.2 芯片堆叠设计
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12.3 2.5D TSV的概念和设计
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12.4 3D TSV的概念和设计
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第13章 RDL及Flip Chip设计
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13.1 RDL的概念和应用
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13.2 Flip Chip的概念及特点
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13.3 RDL设计
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13.4 Flip Chip设计
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第14章 版图布线与敷铜
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14.1 版图布线
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14.2 版图敷铜
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第15章 埋入式无源器件设计
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15.1 埋入式元器件技术的发展
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15.2 埋入式无源器件的工艺和材料
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15.3 无源器件自动综合
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第16章 RF电路设计
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16.1 RF SiP技术
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16.2 RF设计流程
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16.3 RF元器件库的配置
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16.4 RF原理图设计
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16.5 原理图与版图RF参数的相互传递
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16.6 RF版图设计
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16.7 与RF仿真工具连接并传递数据
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第17章 刚柔电路和4D SiP设计
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17.1 刚柔电路介绍
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17.2 刚柔电路设计
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17.3 复杂基板技术
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17.4 基于4D集成的SiP设计
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17.5 4D SiP设计的意义
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第18章 多版图项目与多人协同设计
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18.1 多版图项目
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18.2 原理图多人协同设计
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18.3 版图多人实时协同设计
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第19章 基于先进封装(HDAP)的SiP设计流程
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19.1 先进封装设计流程介绍
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19.2 XSI设计环境
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19.3 XPD设计环境
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19.4 3D数字化样机模拟
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第20章 设计检查和生产数据输出
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20.1 Online DRC
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20.2 Batch DRC
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20.3 Hazard Explorer介绍
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20.4 设计库检查
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20.5 生产数据输出类型
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20.6 Gerber和钻孔数据输出
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20.7 GDS文件和Color Map输出
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20.8 其他生产数据输出
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第21章 SiP仿真验证技术
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21.1 SiP仿真验证技术概述
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21.2 信号完整性(SI)仿真
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21.3 电源完整性(PI)仿真
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21.4 热分析(Thermal)仿真
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21.5 先进3D解算器
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21.6 数/模混合电路仿真
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21.7 电气规则验证
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21.8 HDAP物理验证
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第2部分参考资料及说明
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第3部分 项目和案例
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第22章 基于SiP技术的大容量存储芯片设计案例
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22.1 大容量存储器在航天产品中的应用现状
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22.2 SiP技术应用的可行性分析
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22.3 基于SiP技术的大容量存储芯片设计
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22.4 大容量存储芯片封装和测试
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22.5 新旧产品技术参数比较
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第23章 SiP项目规划及设计案例
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23.1 SiP项目规划
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23.2 设计规则导入
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23.3 SiP产品设计
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第24章 2.5D TSV技术及设计案例
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24.1 2.5D集成的需求
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24.2 传统封装工艺与2.5D集成的对比
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24.3 2.5D TSV转接板设计
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24.4 转接板、有机基板工艺流程比较
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24.5 掩模版工艺流程简介
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24.6 2.5D硅转接板设计、仿真、制造案例
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第25章 数字T/R组件SiP设计案例
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25.1 雷达系统简介
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25.2 SiP技术的采用
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25.3 数字T/R组件电路设计
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25.4 金属壳体及一体化封装设计
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第26章 MEMS验证SiP设计案例
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26.1 项目介绍
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26.2 SiP方案设计
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26.3 SiP电路设计
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26.4 产品组装及测试
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第27章 基于刚柔基板的SiP设计案例
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27.1 刚柔基板技术概述
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27.2 射频前端系统架构和RF SiP方案
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27.3 基于刚柔基板RF SiP电学设计仿真
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27.4 基于刚柔基板RF SiP的热设计仿真
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27.5 基于刚柔基板RF SiP的工艺组装实现
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第28章 射频系统集成SiP设计案例
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28.1 射频系统集成技术
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28.2 射频系统集成SiP的设计与仿真
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28.4 射频系统集成SiP的组装与测试
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第29章 基于PoP的RF SiP设计案例
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29.1 PoP技术简介
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29.2 射频系统架构与指标
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29.3 RF SiP结构与基板设计
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29.4 RF SiP信号完整性与电源完整性仿真
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29.5 RF SiP热设计仿真
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29.6 RF SiP组装与测试
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第30章 SiP基板生产数据处理案例
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30.1 LTCC、厚膜及异质异构集成技术介绍
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30.2 Gerber数据和钻孔数据
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30.3 版图拼版
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30.4 多种掩模生成
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第3部分参考资料
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后记和致谢
更新时间:2024-01-22 18:46:27